展示

第 34 回 コンファレンスの展示会社

1.リソテックジャパン株式会社(2社スペース)

 

2.フォトテクニカ株式会社

 

 

   詳細は以下をご覧ください。

 

3. リソテックジャパン株式会社

弊社は、設立以来リソグラフィのスペシャリストとして、現像速度解析装置、リソグラフィ・シミュレータ、コーター、デベロッパ、さらに最先端プロセス評価用露光システムに至るまで、お客様のご要望に迅速にお応えしております。そして急速なイノベーションのなか、半導体や液晶をはじめ電子技術の様々な分野で技術革新のお手伝いをするために、お客様のニーズを的確にとらえたタイムリーな製品開発ときめ細かいサポート活動に努めております。

 

事業内容

微細加工プロセス用評価 / 製造装置の開発、製造、販売、輸出入、保守サービス

コータ・デベロッパ,レジスト評価システム,ナノインプリント,シミュレータ,膜厚測定装置,EUV光源,受託測定・受託研究,LDLSTM白色光源

 

 

取り扱い製品

取り扱い製品の詳細はホームページでご確認ください。

 

展示品

Exhibition: Patterned Tg Analyzer Model PTGA-500, 

Mini-lab bake -150

Atsushi Sekiguchi, Analysis Science Group

 

連絡先         〒332-0034 埼玉県川口市並木2-6-6 

Tel 048-258-6775

Fax 048-258-6673

e-mail: sekiguchi-pdg@ltj.co.jp

 

1. フォトテクニカ株式会社

 

当社はレーザ発振器及び光学機器・部品の輸入販売からスタートし、世界の革新的で独創的な電子光学 機器の輸入販売と高度な技術サービスの提供を通して発展してまいりました。主要商品として、レーザ 光源は産業用・研究開発用に最適な最先端のナノ秒、ピコ秒、フェムト秒レーザなどを取扱っております。 それと共にレーザ光を調整する各種機能製品 ( 変調、変換、安定化、パルスシェーパー、ビームプロファ イラー等 ) や計測用製品 ( オートコリレータ、出力・エネルギー計測器 ) を用意しています。また分光分析、 画像処理の分野では、高性能ファイバー入射型分光器、マルチスペクトルイメージングシステムなどを ご提供しています。さらに近年の薄膜技術の発展に対応して、薄膜密着強度テスターや膜厚モニターを 提供しております。今後も、光とナノテクノロジーの分野にしっかりとした軸足を置き、市場の動向に 対応して、フロンティア商社としての更なる発展を目指してまいります。

 

事業内容:1. レーザ発振器及びその応用装置の開発と販売、メンテナンス      

        2. エレクトロオプティクス機器、理化学機器、計測機器、光学機器とその部品の開発と販売                        3. 上記製品のコンサルティングと 輸出入業務

取り扱いメーカー一覧

Altechna Co. Ltd. 

APE (Angewandte Physik & Elektronik GmbH) 

Applied Surface Technologies 

Ato ID UAB  

Avantes BV 

BEOC (Brockton Electro-Optics Corp.) 

ConOptics, Inc. 

EKSPLA Ltd. 

EMO Elektronik GmbH 

few-cycle Inc.   

Gentec-EO (Electro-Optics) Inc. 

INFICON Inc.
 

 

 

Integrated Optics UAB 

IntraAction Corp. 

IPG Photonics Corp. 

Light Conversion Ltd. 

LightPath Technologies Inc. 

Meadowlark Optics Inc. 

Novae 

Onefive GmbH 

Quad Group Inc. 

Quantum Light Instruments Ltd. 

Terahertz Technologies Inc.

 

山本光学株式会社
ソーラボジャパン株式会社

 

 

展示品Stud Pull Coaing Adherence Tester (Romulus),Thickness monitor (AvaThinfilm

 

ROMURUS(ロミュラス)

独自のスタッドピンと接着剤による引っ張り試験により、基板上のめっき膜・レジスト膜などの密着力を容易に自動で定量測定可能な薄膜密着強度測定機

独自のエポキシ接着剤付スタッドピンを試料表面に接着させ、PC制御で荷重(最大100kg、精度±1)をかけて引っ張り、剥離が生じた時点の密着性を表示し定量的に測定可能で、測定設定やデータ保存も簡単にできる。カラーフィルター、レジスト膜、めっき膜、DLC膜等の薄膜密着強度測定に最適。またモジュール交換で6種類のテスターとして使用可能。複合基盤の張り合わせ強度、コーティング引き倒し強度、固定されたダイ等のせん断強度、フレキシブル基板の剥離強度、3点曲げ方法による歪み・応力特性等の測定に使用可能。

AvaThinfilm

ファイバー入射型分光器利用で非接触リアルタイム膜厚計測ができる、光学干渉式膜厚モニター

独自の分光器、重水素ハロゲン光源、反射プローブ、専用ソフトのシステム。非接触でリアルタイムに膜の厚さを計測可能。白色光の干渉パターンから光学膜厚を割出し、薄膜材料の光学物性値から算出してサンプルの膜厚(10nm50μm)を計測することができる。

 

(測定分解能:1nm)。多層膜用オプション有。


 連絡先

 

〒336-0017 さいたま市南区南浦和1-2-17

Tel 048-871-0067

Fax 048-871-0068

e-mail: voc@phototechnica.co.jp

 

 

 

 

 

 

English

コンファレンス期間中,展示会を併設します。  ICPST-35 (20018) の展示会出展企業を募集しています。事務局に申し込み,または お問い合わせ 下さい。

 

展示をお申込みして頂いた会社には,展示スペースの他,ホームページに紹介記事、論文誌1組進呈,1名の方を懇親会に招待いたします。

 

展示スペースは幅180cm奥行き60cmのテーブル,背後に高さ2m幅180cmの社名カード,照明付きボード,椅子を用意いたします。