展示
第 40回 コンファレンスの展示会社を募集しています。
コンファレンス期間中，展示会を併設します。 ICPST-40 (2023) の展示会出展企業・団体を募集しています。
事務局に申し込み，または お問い合わせ 下さい。
展示をお申込みして頂いた会社・団体には，展示スペースの他，ホームページにご準備いただいたA4一枚程度の紹介記事（御社のHPにリンク可能）を作成します。1名の方を展示参加者として登録し，懇親会に招待いたします。
希望があれば論文誌１組を実費（￥12,000）にて頒布いたします。
展示スペース（1ブース）は
・幅180 cm×奥行き60 cmのテーブル
・高さ２m×幅180 cmの社名カード，照明付きボード
・椅子
を用意いたします。
出展費用：￥60,000（1ブース）
ICPST-35の例
１．フォトテクニカ株式会社
詳細は以下をご覧ください。
1. フォトテクニカ株式会社
当社はレーザ発振器及び光学機器・部品の輸入販売からスタートし、世界の革新的で独創的な電子光学 機器の輸入販売と高度な技術サービスの提供を通して発展してまいりました。主要商品として、レーザ
光源は産業用・研究開発用に最適な最先端のナノ秒、ピコ秒、フェムト秒レーザなどを取扱っております。 それと共にレーザ光を調整する各種機能製品 ( 変調、変換、安定化、パルスシェーパー、ビームプロファ イラー等 ) や計測用製品 ( オートコリレータ、出力・エネルギー計測器 ) を用意しています。また分光分析、
画像処理の分野では、高性能ファイバー入射型分光器、マルチスペクトルイメージングシステムなどを ご提供しています。さらに近年の薄膜技術の発展に対応して、薄膜密着強度テスターや膜厚モニターを 提供しております。今後も、光とナノテクノロジーの分野にしっかりとした軸足を置き、市場の動向に
対応して、フロンティア商社としての更なる発展を目指してまいります。
事業内容：1. レーザ発振器及びその応用装置の開発と販売、メンテナンス
2. エレクトロオプティクス機器、理化学機器、計測機器、光学機器とその部品の開発と販売
3. 上記製品のコンサルティングと 輸出入業務
取り扱いメーカー一覧
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Altechna Co. Ltd. APE (Angewandte Physik & Elektronik GmbH) Applied Surface Technologies Ato ID UAB Avantes BV BEOC (Brockton Electro-Optics Corp.) ConOptics, Inc. DAUSINGER+GIESEN GmbH EKSPLA Ltd. EMO Elektronik GmbH few-cycle Inc. Gentec-EO (Electro-Optics) Inc.
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INFICON Inc. Integrated Optics UAB IntraAction Corp. IPG Photonics Corp. Light Conversion Ltd. LightPath Technologies Inc. Meadowlark Optics Inc. Novae Quad Group Inc. Quantum Light Instruments Ltd. Terahertz Technologies Inc.
山本光学株式会社
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展示品:
CO2 ジェット表面洗浄器, Stud Pull Coaing Adherence Tester (Romulus), Thickness monitor (AvaThinfilm).
◆CO2 ジェット表面洗浄器
Applied Surface Technologies 社製 CO2 ガスの噴射により物質表面のゴミ粒子、指紋等の油分等の汚れを ミクロンレベルまで除去可能で、対象物を破壊せずに除去でき、 残留物も科学的汚染も生じない。
1. XPS、AES、AFM 分析試料表面洗浄による事前準備
2. 金属、ガラス、セラミックス、ポリマー、Si ウェハーなどの汚れの除去
3. レンズ、フィルター、ミラー、グレーティングなどの光学部品の汚れの除去
4. 各種エレクトロニクス製品・部品の洗浄 5. 電気部品、自動車部品、通信機器部品、医療用部品等の洗浄
◆ROMURUS（ロミュラス）
独自のスタッドピンと接着剤による引っ張り試験により、基板上のめっき膜・レジスト膜などの密着力を容易に自動で定量測定可能な薄膜密着強度測定機
独自のエポキシ接着剤付スタッドピンを試料表面に接着させ、PC制御で荷重（最大100kg、精度±1％)をかけて引っ張り、剥離が生じた時点の密着性を表示し定量的に測定可能で、測定設定やデータ保存も簡単にできる。カラーフィルター、レジスト膜、めっき膜、DLC膜等の薄膜密着強度測定に最適。またモジュール交換で６種類のテスターとして使用可能。複合基盤の張り合わせ強度、コーティング引き倒し強度、固定されたダイ等のせん断強度、フレキシブル基板の剥離強度、３点曲げ方法による歪み・応力特性等の測定に使用可能。
◆AvaThinfilm
ファイバー入射型分光器利用で非接触リアルタイム膜厚計測ができる、光学干渉式膜厚モニター
独自の分光器、重水素ハロゲン光源、反射プローブ、専用ソフトのシステム。非接触でリアルタイムに膜の厚さを計測可能。白色光の干渉パターンから光学膜厚を割出し、薄膜材料の光学物性値から算出してサンプルの膜厚(10nm～50μm)を計測することができる。
(測定分解能：1nm)。多層膜用オプション有。
連絡先
〒336-0017 さいたま市南区南浦和1-2-17
Tel 048-871-0067
Fax 048-871-0068
e-mail: voc@phototechnica.co.jp
